CIOE中國國際光電博覽會將于9月6-9日在深圳會展中心舉辦,中圖儀器攜光學(xué)3D表面輪廓儀、輪廓測量儀、激光干涉儀參展, 誠邀您蒞臨我們的展臺。
深圳市中圖儀器股份有限公司 展位:8 號館 精密光學(xué)展區(qū) 展臺號 8K36 |
展品先睹為快
SuperView W1 光學(xué)3D表面輪廓儀采用光學(xué)非接觸式測量方法,以白光干涉技術(shù)為原理,對硅晶片、微透鏡陣列、磨損平凸鏡面及棱鏡平面等進行表面形貌特征測量和分析。
SJ5760輪廓測量儀通過測針在被檢物件表面滑移,可對各種模具工件進行長度、高度、間距、水平距離、垂直距離、角度、圓弧半徑等幾何參數(shù)測量。
SJ6000激光干涉以光波為載體,結(jié)合不同的光學(xué)鏡組,可對各類機床設(shè)備進行線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。
展品詳細(xì)信息,請屆時蒞臨我司展臺咨詢,我們期待與您進行技術(shù)交流,9月6-9日,深圳會展中心8號館8K36我們不見不散!
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